日本日置磁場(chǎng)測(cè)試儀 FT3470-51概述

磁場(chǎng)測(cè)試儀的校正可在日本國(guó)內(nèi)進(jìn)行

JIS C 1910推薦使用進(jìn)行過(guò)校正，可溯源的測(cè)試儀來(lái)進(jìn)行測(cè)量。

HIOKI擁有NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）的可溯源的校正設(shè)備，可在國(guó)內(nèi)進(jìn)行校正。根據(jù)客戶的要求，可再磁場(chǎng)測(cè)試儀購(gòu)買(mǎi)時(shí)或購(gòu)買(mǎi)后進(jìn)行校正時(shí)，有償提供檢查成績(jī)表、校正證明書(shū)、可溯源體系圖。關(guān)于校正詳情請(qǐng)向樶近的HIOKI營(yíng)業(yè)所垂詢。

可分別顯示3軸（X，Y，Z）磁場(chǎng)各自的值

電流流過(guò)的物體周?chē)a(chǎn)生的空間稱為“磁場(chǎng)”。磁場(chǎng)存在方向，根據(jù)方向，測(cè)量值不同。需要測(cè)量3軸全部。FT3470-50系列能夠同時(shí)測(cè)量3軸并求出合成值（R），從而做到準(zhǔn)確的測(cè)量。

可選的磁通密度單位

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定的不同，支持顯示T（特斯拉）、A/m （安培/米）、G （高斯）之類(lèi)不同的磁通密度的單位。

磁通密度的合成有效值電平、暴露電平的模擬輸出功能（JIN限FT3470-51，F(xiàn)T3470-52）

與存儲(chǔ)記錄儀或數(shù)據(jù)采集儀連接，可記錄磁通密度的有效值。便于長(zhǎng)期的觀測(cè)。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準(zhǔn)）

磁通密度（T）的X，Y，Z各軸的波形輸出功能（JIN限FT3470-51，F(xiàn)T3470-52）

連接示波器或存儲(chǔ)記錄儀，可觀測(cè)磁場(chǎng)的波形。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準(zhǔn)）

日本日置磁場(chǎng)測(cè)試儀 FT3470-51特點(diǎn)

★ 適用于以ICNIRP2010準(zhǔn)則為基礎(chǔ)的評(píng)估試驗(yàn)

★ 符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233標(biāo)準(zhǔn)

★ 標(biāo)配符合IEC/EN62233的100cm2的磁場(chǎng)傳感器

★ 顯示單位可選(T，A/m，G)

★ 操作簡(jiǎn)單，輕松測(cè)量

★ 標(biāo)配PC應(yīng)用軟件

★ 可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400