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HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta

HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta概述

HORIBA發布Duetta新一代分子熒光光譜儀,吸收與熒光功能二合一,重新定義分子熒光系統。

針對熒光定量定性分析中內濾效應(IFE)的問題,首ci提出了A-TEEM技術,開發了獨有的同步吸收-熒光光學設計,消除IFE,擴展濃度的線性區間,特別適用于有顏色,高濃度樣品的分析;

在熒光指紋圖譜(EEM)分析中,CCD檢測器眨眼間(1s)獲得三維熒光光譜,避免樣品有位置變動(抖動或沉降)影響的光譜結果,并可經過IFE校正(利用吸收信號校正熒光信號)獲得更加準確的EEM圖譜;

超寬的CCD響應范圍,遠超常規PMT光譜儀的極限檢測范圍,實現一次采譜完MEI獲得全譜范圍響應信號(~1100nm),無拼接,無切換,解決近紅外一區全譜測試,可進行全譜動態測試;

SHOU發EzSpec軟件,使得熒光光譜儀進入智能觸屏時代,擺脫鼠標鍵盤束縛;

智能樣品附件識別設計,支持熱插拔標準附件,無需軟件安裝;整機免維護,換燈免服務人員,輕松使用。

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