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日本日立掃描探針顯微鏡控制器

日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述

AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面,標準配備參數自動設置功能(RealTune® II),即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時,也能快速獲得準確的測量數據。

RealTune®II SIS Q CL

  • 圖標說明
  • * RealTune是日立高新技術公司在日本的注冊商標

日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點
1. RealTune® II 樶新的參數自動設置功能

  • 獨有的參數自動設置功能!
    RealTune® II可預測并調整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數,可以根據樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況,高效率、高精度地調整成樶合適的測量條件。
  • 通過新增加的參數自動設置功能(RealTune® II),可實現一鍵(One Click)測量。
    原來需要專業操作才能完成的測量,現在即便是新手也可以輕松勝任。
  • 也可用于高難度樣品。

【實例1】纖維狀的碳納米管結構體(壁虎膠帶)
【實例1】纖維狀的碳納米管結構體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】

以往的方法這些樣品需要對參數進行精細的調整,操作難度很高,并且柔軟的纖維易變形產生皺痕。

新處理方法

自動設置成樶合適的條件,可在復雜的纖維結構不變形的情況下進行精準測量。

【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜(并五苯多結晶薄膜)
【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜(并五苯多結晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學北村研究室】

以往的方法這種樣品,表面容易損壞,易產生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。

新處理方法

自動設置成樶合適的條件,穩定地測量分子級別上的臺階結構。

従來方式と新アルゴリズムの比較畫像

2. 全新的圖標用戶界面(Graphical Use Interface)
簡單的菜單設置

  • 明了易懂的圖標、嚴格篩選的圖片信息,無論是初學者還是有經驗的操作員,都能夠輕松掌控!
  • 可通過選項卡在測量及分析之間相互切換,畫面簡潔明了。

選項、導航

測量畫面、分析畫面

3. 3D覆蓋功能

能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示,并能構畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

MOS晶體管的形狀圖像與SNDM圖像的3D重合

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能

配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。

凹凸分析、剖面輪廓分析功能

5. 小型化設計

輕便的小型化外形,適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

小型化設計

能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示,并能構畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

MOS晶體管的形狀圖像與SNDM圖像的3D重合

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